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一种扫查反演装置及三维成像设备
交易价格:面谈
所属类型
实用新型专利
所属行业
G01-测量、测试
所属国家
所属地域
PCT项
交易方式
  • 专利详情
  • 专利摘要
  • 主权利要求
  • 优先权项
  • PCT项
CN2019222920358
2019-12-18
实用新型专利
一种扫查反演装置及三维成像设备
华南理工大学
已授权

本实用新型涉及一种扫查反演装置及三维成像设备,通过以任意角度和任意移动方向在被测物表面进行多次移动扫查,每次扫查被测物的局部信息,通过将多次移动扫查的数据输出至图像生成装置实现被测物的三维图反演,相对于现有技术,本实用新型直观地实现对被测物的内部缺陷的检测,具有结构简单、便携、方便手持的特点。

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