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一种界面II型裂纹的临界能量释放率测试方法
交易价格:面谈
所属类型
发明专利
所属行业
G01-测量、测试
所属国家
所属地域
PCT项
交易方式
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  • PCT项
CN2020114911496
2020-12-17
发明专利
一种界面II型裂纹的临界能量释放率测试方法
华南理工大学
已授权

本发明公开了一种界面II型裂纹的临界能量释放率测试方法,其利用制备多组不同预制界面裂纹长度的剪切试件,对各组剪切试件进行剪切实验,以获得剪切试件的载荷~位移曲线,再将各组试件的载荷~位移曲线进行归一化处理,建立载荷~位移曲线方程,确定临界位移或临界载荷,然后依据能量释放率的定义计算界面II型裂纹的能量释放率,确定其临界能量释放率。本发明可提供各种界面II型裂纹的临界能量释放率的有效测试方法,为制定界面II型裂纹的临界能量释放率测试标准/规程、建立界面裂纹问题的断裂准则、对各种复合结构的界面剥离破坏行为进行评价而奠定基础。

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