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一种将A-S通用样品台的坐标转换为AFM样品台的坐标的方法
交易价格:面谈
所属类型
发明专利
所属行业
G01-测量、测试
所属国家
所属地域
PCT项
交易方式
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  • 主权利要求
  • 优先权项
  • PCT项
CN2018101855607
2018-03-07
发明专利
一种将A-S通用样品台的坐标转换为AFM样品台的坐标的方法
华南理工大学
已授权

本发明提供了一种将A?S通用样品台的坐标转换为AFM样品台的坐标的方法,包括以下步骤:(1)先将放置有样品的A?S通用样品台在SEM中观察,找到目标区域;(2)记录该区域的目标坐标;(3)将A?S通用样品台转移到AFM样品台上,得到目标坐标在AFM样品台中的新坐标。本发明提供的将A?S通用样品台的坐标转换为AFM样品台的坐标的方法,解决了A?S通用样品台转移到AFM样品台后目标点坐标的重新定位,实现了SEM与AFM的联用,大大提高AFM的工作效率,极大的丰富科研人员对纳米材料的认知。

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