本发明公开了一种用于ＬＥＤ芯片及器件的检测装置及方法，所述装置包括蓝膜或器件基板装夹夹具，环状阵列测试电极，电源与电参数采集系统。环状阵列测试电极外形为滚筒状，具有多组正负测试探针，检测时，通过同步带轮带动本发明提出的检测装置，并使正负测试探针刚好接触待测ＬＥＤ芯片或器件正负电极，通过电源依次对正在接触基板的一列探针通入扫描电流，同时采集其电参数，完成后同步带轮带动装置滚动至相邻下一列探针，对下一列ＬＥＤ芯片或器件进行测试。本发明所提技术方法效率极高，相比传统检测方法检测效率可提高６－１０倍，应用于ＬＥＤ产业会大大提高ＬＥＤ产品检测效率，减少设备损耗，提升产品成本竞争优势具有良好的产业化应用前景。