本发明公开了一种大批量LED封装生产过程的品质控制方法，该方法包括LED产品的离线分析和LED涂覆生产过程的在线监控。离线分析包括：采集LED产品的5个质量指标数据并进行预处理；利用多变量控制图判定产品质量是否异常；若异常，采用优化的支持向量机进行多变量异常源识别；采用Apriori算法分析识别的异常质量指标所关联的异常生产参数。涂覆生产过程在线监控包括：采集LED封装生产过程中荧光粉涂覆工艺的6个生产参数；利用多变量控制图判定生产过程是否异常；若异常，采用优化的支持向量机进行多变量异常源识别，确定异常参数。本发明提供了一种大批量LED封装生产过程的智能分析与检测方法，可有效解决LED封装生产过程的品质控制问题。