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一种面向嵌入式系统的磁盘I/O测试系统
交易价格:面谈
所属类型
发明专利
所属行业
G06-计算技术
所属国家
所属地域
PCT项
交易方式
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  • PCT项
CN2011103382447
2011-10-31
发明专利
一种面向嵌入式系统的磁盘I/O测试系统
华南理工大学
已授权

本发明公开了一种面向嵌入式系统的磁盘I/O测试系统,包括客户端、目标机端,客户端与目标机端网络连接,所述客户端包括:传输控制模块、数据处理模块、显示交换模块;所述目标机端包括:测试代理模块、测试执行模块。本发明的有益效果是测试在特定系统中嵌入式磁盘I/O的性能、对系统的磁盘I/O进行实时监测并分析是否存在瓶颈、对进程的磁盘I/O情况进行实时监测并实时获取系统中运行的软件对磁盘的I/O访问情况、对磁盘的每一次I/O访问进行跟踪记录并可存入数据库,本发明一方面是驱动层对磁盘I/O进行监测,另一方面可在磁盘测试中使用收集到的日常读写数据作为输入源以模拟实际应用,最终得到对被测试磁盘真实可靠的性能评价。

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