本发明公开了一种Berreman矩阵对多层光学膜性能的预测方法。所述方法获取实验光谱数据与各层材料的已知数据；使用Berreman4×4矩阵对光学计算值与实验值进行拟合；得到优化之后的计算结果，输出相关参数的数据以及图像。本发明较为准确地对材料的厚度、色散系数、折射率进行模拟计算并获得近似于解析解的仿真值，并可以通过计算所得的色散系数计算在波长变化以及波长不变情况材料下的折射率变化情况。