本发明公开了一种滤光片缺陷特征参数选择的熵方法，包括：从缺陷滤光片图像中分割出包含缺陷的外接矩形，形成缺陷ＲＯＩ；设置候选特征集Ｆ的元素，设置已选特征集Ｓ为空集；计算缺陷ＲＯＩ特征值，构造样本集合；计算候选特征ｆｉｆｋ与类Ｃ的归一化互信息ＳＵ（ｆｉｆｋ，Ｃ）；根据ＳＵ（ｆｉｆｋ，Ｃ）最大值选出Ｓ的第一个元素ｓ１；去除候选特征集Ｆ中已选入Ｓ的特征及归一化互信息ＳＵ（ｆｉｆｋ，Ｃ）小于阈值的候选特征；计算候选特征集Ｆ中每个候选特征ｆｉｆｋ的评价函数Ｊ（ｆｉｆｋ，Ｃ，Ｓ）的值；根据评价函数Ｊ（ｆｉｆｋ，Ｃ，Ｓ）最大值选出已选特征集Ｓ的下一个元素；去除候选特征集Ｆ中已选入Ｓ的特征及评价函数Ｊ（ｆｉｆｋ，Ｃ，Ｓ）小于阈值的候选特征；判断候选特征集Ｆ是否空集；输出已选特征。