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一种物体位移测量方法
交易价格:面谈
所属类型
发明专利
所属行业
G06-计算技术
所属国家
所属地域
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  • PCT项
CN2015110344823
2015-12-31
发明专利
一种物体位移测量方法
华南理工大学
已授权

本发明公开了一种物体位移测量方法,包括以下步骤:1、选取第一帧图像P1和第一帧后的任意一帧图像M1;2、对图像进行灰度化处理;3、得到P2和M2;4、在P1中框出特定区域作为模板T1;5、得到与T1相似的匹配区域;6、实现像素级匹配;7、计算n*n区域的每个像素点相关系数,选取拟合得到的曲面的最大值的坐标作为匹配点;8、得到在M2中对应的坐标位置;9、利用模版T1,选取在P2中对应的模板T2;10、计算T2在每个点上的相关系数;11、将最佳匹配点对应的坐标值与模板在P1中的坐标进行比较;12、重复步骤4~11计算位移的统计平均值,以统计平均值作为最终位移结果。具有计算效率高等优点。

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