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一种高效检测小间距COB显示模组像素坏点的方法
交易价格:面谈
所属类型
发明专利
所属行业
G09-教育、密码、显示、广告、印鉴
所属国家
所属地域
PCT项
交易方式
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  • 主权利要求
  • 优先权项
  • PCT项
CN2018111736746
2018-10-09
发明专利
一种高效检测小间距COB显示模组像素坏点的方法
华南理工大学
已授权

本发明公开了一种高效检测小间距COB显示模组像素坏点的方法,包括步骤:在COB显示模组基板上预留RGB三种芯片的独立检测电路;对RGB芯片进行固晶焊线;对R电路、G电路或B电路整体电路检测确定坏点所在行;二分法定位高效定位坏点;替换修复坏点;重新检测直至电路全部点亮;对剩下的两种颜色芯片重复步骤定位修复坏点;硅胶封装COB显示模组;切割划断COB显示模组的预留电路;本发明方法在模组封装之前,利用预留的电路简单快捷进行整体检测,进而利用二分法快速定位及修复坏点,并且在封装之后将预留电路断开不影响显示模组的实际应用,为下一步的控制电路安装消除了质量隐患,在小间距显示领域中具有重要的实际意义。

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