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一种提高半导体氧化物薄膜偏压热稳定性的方法
交易价格:面谈
所属类型
发明专利
所属行业
H01-基本电器元件
所属国家
所属地域
PCT项
交易方式
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  • PCT项
CN2018102723041
2018-03-29
发明专利
一种提高半导体氧化物薄膜偏压热稳定性的方法
华南理工大学
已授权

本发明提供了一种提高半导体氧化物薄膜偏压热稳定性的方法。所述方法包括如下步骤:(1)将半导体氧化物的盐、稀土盐、任选地乙醇胺、任选地醋酸和任选地燃料溶于乙二醇单甲醚中,静置老化,得到前驱体溶液;(2)将步骤(1)得到的前驱体溶液涂覆于基材上,先前烘退火,再后烘退火,得到半导体氧化物薄膜。本发明通过在半导体氧化物薄膜中掺杂稀土元素,钝化了在退火过程中残留的有机杂质,从而提高了薄膜的偏压热稳定性。

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