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一种氧化物半导体薄膜及其低温溶液制备方法
交易价格:面谈
所属类型
发明专利
所属行业
H01-基本电器元件
所属国家
所属地域
PCT项
交易方式
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  • PCT项
CN201610098295X
2016-02-23
发明专利
一种氧化物半导体薄膜及其低温溶液制备方法
华南理工大学
已授权

一种氧化物半导体薄膜及其低温溶液制备方法,薄膜的主要成分为InLiOX,其中X为Cl或F中的至少一种;In:(In+Li)的范围为70%~99%,Li:(In+Li)的范围为1%~30%,X:(In+Li)的范围为0.5%~10%。其制备方法包括,(1)将前驱体溶液涂布形成前驱体薄膜;(2)前烘;(3)将待图形化的前驱体薄膜放入掩膜板中;(4)紫外光照射;(5)浸泡剂浸泡;(6)经浸泡处理后的薄膜进行热处理得到目标氧化物薄膜;(7)重复以上步骤得到需要厚度的成品氧化物薄膜。该氧化物半导体薄膜及其制备方法满足在低温下通过溶液法制备,且该氧化物半导体薄膜的迁移率高、稳定性好。

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