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用于薄膜晶体管的氧化物半导体薄膜及其制备方法
交易价格:面谈
所属类型
发明专利
所属行业
H01-基本电器元件
所属国家
所属地域
PCT项
交易方式
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  • PCT项
CN2010105137074
2010-10-20
发明专利
用于薄膜晶体管的氧化物半导体薄膜及其制备方法
华南理工大学
已授权

本发明公开了用于薄膜晶体管的氧化物半导体薄膜及其制备方法,该氧化物半导体薄膜材料成分为:(Al2O3)x(Nd2O3)y(In2O3)z(ZnO)(1-x-y-z),其中,0.008≤x≤0.023,0.003≤y≤0.05,0.322≤z≤0.327,该氧化物半导体薄膜材料用于制作薄膜晶体管的有源层。这种氧化物半导体薄膜可以用溅射方法制备。本发明的氧化物半导体薄膜具有载流子迁移率高、稳定性好、可以透射可见光等优点,这种氧化物半导体薄膜可以用于制备薄膜晶体管,包括所发明的氧化物半导体薄膜的晶体管可以应用在有机发光显示(OLED)、液晶显示(LCD)、电子纸显示等驱动方面,还可以应用在集成电路领域。

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