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氧化物半导体薄膜及一种薄膜晶体管
交易价格:面谈
所属类型
发明专利
所属行业
H01-基本电器元件
所属国家
所属地域
PCT项
交易方式
  • 专利详情
  • 专利摘要
  • 主权利要求
  • 优先权项
  • PCT项
CN2013102768656
2013-07-04
发明专利
氧化物半导体薄膜及一种薄膜晶体管
华南理工大学
已授权

氧化物半导体薄膜及一种薄膜晶体管,氧化物半导体薄膜成分为M2xIn2-2xO3-δ,其中M为ⅢB族元素,0.001≤x≤0.3,0≤δ<3。ⅢB族元素为Sc、Y、Ac、La、Ce、Pr、Nd、Pm、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、或Lu中的一种或任意两种以上的元素。薄膜的厚度为5nm至200nm;氧化物半导体薄膜的载流子浓度小于5×1019cm-3。该氧化物半导体薄膜用于作为薄膜晶体管的沟道层材料。薄膜晶体管设置有栅极、沟道层、位于栅极和沟道层之间的绝缘层、分别连接在沟道层两端的源极和漏极;其沟道层设置为上述的氧化物半导体薄膜。本发明性能良好、制备工艺简单、适应范围广。

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