本发明实施例公开了一种射频前端芯片的动态测试系统，所述系统包括：上位机，用于编辑及储存动态测试所需所有测试项的控制序列；在动态测试过程中，发送当前测试项对应的控制序列至动态测试装置；动态测试装置，用于接收并保存所述上位机发送的当前测试项对应的控制序列；并在动态测试过程中，按照当前测试项对应的控制序列中各控制指令的执行时间，依次调出相应的控制指令，发送至被测射频前端芯片。采用本发明实施例，能够让射频前端芯片脱离基带芯片，独立测试射频前端芯片的动态性能；该装置及系统具有较高的灵活性，大大提高了射频前端芯片动态性能测试的效率和效果。