本发明涉及芯片测试技术领域，公开了一种对SPI控制芯片进行测试的方法及装置，所述方法包括：选择PC机并口的三个不同打印输出端分别作为SPI控制芯片的时钟端、片选端和数据输入端，并选择PC机并口的一个打印输入端作为SPI控制芯片的数据输出端；利用选择的PC机并口的上述输入端和输出端模拟SPI，对所述SPI控制芯片进行测试。利用本发明，可以大大降低硬件成本，并提高应用的灵活性。